1134B用于对嵌入式设计进行高速差分或单端探测。

凭借出色的电缆长度（5 米）和 50:1 衰减比，可提供优异的差分信号测量。

可执行最高 ±7000 V 差分电压和共模电压的浮置信号测量。

可执行最高 700 V 差分电压和共模电压的浮置信号测量。