型号概述
主要性能特点
● 具有 6½ 位分辨率，相比同类产品颇具性能优势
● 支持功率半导体、HBLED、光学器件、太阳能电池、GaN、SiC 和其他复合材料与设备的检定/测试。应用范围包括半导体结温度检定；高速、高精度数字化；电迁移研究；以及高电流、高功率设备测试
● 提供功率半导体器件检定和测试所需的高压，包括 GaN、SiC 及其他复合材料和器件、高达 3kV 的击穿和漏电测试以及亚毫秒瞬态检定
● 支持通过任何浏览器、任何计算机、从全球任何地方进行远程控制
● 支持精确检定瞬态和稳态行为，包括快速变化的热效应
● 可让多台 2657A 与所选 2600B 系列 SMU 仪器组合成多达 32 条通道的集成系统
● 为封装件或晶片级高功率器件的测试提供安全而方便的连接
● 帮助您创建、修改、调试和存储 TSP 测试脚本
● 在产品开发、质量检验或故障分析期间执行封装件检定时，充分地提高工作效率
产品应用
● 功率半导体器件特征分析与测试
● GaN、SiC和其它一些复合材料与器件 的特征分析
● 高达3kV的击穿与漏流测试
● 亚毫秒瞬态特征分析
